顆粒圖像儀的細節觀測更加清晰，并且使用USB2.0/1394傳輸方式還可以很方便的在便攜式電腦上使用，進一步提高了產品的整體性能，與傳統顯微鏡相比優勢更加明顯。根據多年來用戶的使用意見進行了更加人性化的升級和改進，由計算機自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性”、以及包括長徑比、球型度在內的“形態參數”。再通過進一步計算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線等豐富數據），軟件中還增加了多幅圖像拼接計算的模式，成倍增加了參與分析的顆粒數量，從而有效的保證了數據的代表性。

　　激光粒度儀和顆粒圖像儀有什么區別？

　　粒度儀可分為納米粒度儀，激光粒度儀，單顆粒光阻法粒度儀和圖像粒度儀等。

　　粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。

　　粒度儀分類介紹：

　　激光粒度儀

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀，假設被測顆粒為標準球形，無法測量顆粒形貌，多為離線粒度儀。

　　采用MIE散射原理的激光粒度儀由自主研發的會聚光傅立葉變換光路和無約束自由擬合是數據處理軟件組成，可檢測顆粒大小及分布，覆蓋了毫米、微米、亞微米及納米多個波段。

　　其測試顆粒大小及分布時采用的分散系統根據不同的測試要求分為濕法分散系統、干法分散系統和干濕一體分散系統。

　　當光線照射到顆粒上時會發生散射、衍射，其衍射、散射光強度均與粒子的大小有關。觀測其光強度，可應用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論求得粒子徑分布(激光衍射/散射法)，使用Mie散射理論進行計算。光入射到球形粒子時可產生三類光：一類，在粒子表面、通過粒子內部、經粒子內表面的反射光；第二類，通過粒子內部而折射出的光；第三類，在表面的衍射光。這些現象與粒子的大小無關，全都可以作為光散射處理。

　　一般地，光散射現象可以用經Maxwell電磁方程式嚴密解出的Mie散射理論說明。但是，實際使用起來過于復雜，為了求得實際的光強度，可根據入射波長λ和粒子半徑r的關系，即：rλ時，Fraunhofer衍射理論。在使用上述理論時，應考慮到光的波長和粒徑的關系，在不同的領域使用不同的理論。

　　粒徑大于波長的時候，由Fraunhofer衍射理論求得的衍射光強度和Mie散射理論求得的散射光強度大體是一致的。因此，可以把Fraunhofer衍射理論作為Mie散射理論的近似處理。這時，光散射(衍射)的方向幾乎都集中在前方，其強度與粒子徑的大小有關，有很大的變化。即表示粒子徑固有的光強度譜，解出粒子的光強度分布(散射譜)就可以定出粒子徑。當波長和粒子徑很接近的時候，不能用Fraunhofer的近似式來表示散射強度。這時有必要根據Mie散射理論作進一步討論。在Mie散射中的散射光強度由入射光波長、粒子徑、粒子和介質的相對折射率來確定。

　　顆粒圖像儀

　　對顆粒拍照后將圖片分析處理，可以測量顆粒形貌，通過此方法可實現原位實時在線測量。

　　顆粒圖像儀擁有靜態、動態兩種測試方法。

　　靜態方式使用改裝的顯微鏡系統，配合高清晰攝像機，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關的計算機軟件可進行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計算，并可以將測試結果輸出為報告。

　　動態方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了全新循環分散系統和軟件數據處理模塊，解決了靜態顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷。