各種粒度測(cè)試方法的優(yōu)缺點(diǎn)有哪些？
日期：2011年11月23日 15:19
（1）篩分法。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于40um的樣品。缺點(diǎn)：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
（2）顯微鏡（圖像）法。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀，可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品。缺點(diǎn)：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無(wú)法分析小于1um的樣品。
（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較廣。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作比較繁瑣。
（4）電阻法。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn)：不適合測(cè)量小于0.1um的顆粒樣品，對(duì)粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。
（5）激光法。優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍廣，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高，分辨力低。
（6）電子顯微鏡法。優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析，缺點(diǎn)：樣品少，代表性差，測(cè)量易受人為因素影響，儀器價(jià)格昂貴。
（7）光阻法。優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試便捷快速，可測(cè)液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高。缺點(diǎn)：不適用粒徑小于1umde樣品，進(jìn)行系統(tǒng)比較講究，僅適合對(duì)塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進(jìn)行測(cè)量，對(duì)一般粉體用的不多。
（8）透氣法。優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低。不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)測(cè)性材料粉體。缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布；不能測(cè)小于5um細(xì)粉。
（9）X射線小角散射法。用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。
（10）光子相關(guān)譜法（動(dòng)態(tài)光散射法）。用于納米級(jí)顆粒的粒度測(cè)量。
